Контроль и измерение характеристик микросхем или схем при воздействии переходных помех по цепям питания сложная задача, которую невозможно решить без какого-либо специализированного оборудования. Мало того, что входное напряжение должно регулироваться контролируемым образом, необходимо еще обеспечить достаточный ток, поддерживающий нужную скорость изменения напряжения и питание тестируемых схем. Один из способов относительно простого формирования положительных скачков в линии питания, ...